Laserowe skanery pomiarowe
Celem monografii jest kompleksowe przedstawienie zagadnień związanych z
zastosowaniem laserowych metod skaningowych w pomiarach.
Książka przeznaczona jest dla szerokiego grona odbiorców, reprezentujących różne
dziedziny nauki i techniki, w tym głównie studentów i pracowników naukowo-badawczych
wyższych uczelni technicznych.
Materiał przedstawiono tak, aby czytelnik ogólnie zapoznany z możliwościami jakie
stwarza wiązka laserowa w pomiarach, mógł bez trudu zrozumieć jak wielki potencjał
zawiera się w skanerach i skaningowej technice pomiarowej. W monografii zawarte są
także praktyczne i nowatorskie treści będące wskazówkami przyszłego rozwoju technik
skaningowych (jak np. parametr jakości wiązki M2, oraz analiza dyfrakcyjnych efektów
krawędziowych).
Przedmowa
Wykaz najważniejszych oznaczeń
1. Wstęp
Bibliografia
2. Skanowanie
2.1. Wprowadzenie
2.2. Skanery pasywne
2.3. Skanery aktywne
Bibliografia
3. Skanery laserowe
3.1. Wprowadzenie
3.2. Skanery piszące
3.3. Skanery czytające
3.4. Skanery czytająco-piszące
3.5. Skanery poosiowe
3.6. Skanery poprzeczne
3.7. Konfiguracja pracy skanera
3.8. Prowadzenie wiązki
Bibliografia
4. Skanery pomiarowe
4.1. Laserowe pomiary skaningowe
4.1.1. Pomiar średnic
4.1.2. Rozwiązania stosowane w urządzeniach komercyjnych
4.1.3. Pomiar chropowatości
4.2. Czynnik aperturowy
4.3. Rozdzielczość skanowania
4.4. Powiększenie skanera
Bibliografia
5. Wiązka laserowa
5.1. Lasery stosowane w skanerach
5.2. Parametry wiązki
5.2.1. Wiązka gaussowska
5.2.2. Mody podłużne
5.2.3. Mody poprzeczne
5.2.4 Pomiar średnicy wiązki
5.2.5 Parametr jakości wiązki M 2
5.2.6. Moc wiązki
Bibliografia
6. Układy odchylania wiązki (kątowe i liniowe)
6.1. Wprowadzenie
6.2. Deflektory elektromechaniczne
6.2.1. Deflektory poligonalne
6.2.2. Deflektory galwanometryczne
6.2.3. Deflektory rezonansowe
6.3. Deflektory holograficzne
6.4. Deflektory elektrooptyczne
6.5. Deflektory akustooptyczne
6.6. Deflektory MEMS
6.7. Porównanie parametrów deflektorów
Bibliografia
7. Układ optyczny
7.1. Wprowadzenie
7.2. Soczewki flat-field
7.3. Soczewki f-?
7.4. Zniekształcenia wprowadzane przez soczewki
Bibliografia
8. Techniki pomiarowe. Rozwiązania
8.1. Wybrane metody. Wstępna analiza niedokładności
8.2. Bezpośredni pomiar kąta odchylenia
8.3. Wyznaczenie położenia krawędzi metodą dyfrakcyjną
8.3.1. Wiadomości wstępne
8.3.2. Rozszerzony model dyfrakcji Younga-Rubinowicza
8.3.3. Stanowisko pomiarowe
8.3.4. Ostra krawędź a obiekt 3D
8.3.5. Wpływ położenia elementu mierzonego
8.3.6. Dyfrakcyjna metoda pomiaru średnic wałków
Bibliografia
9. Błędy w pomiarach skaningowych średnic
9.1. Błąd systematyczny pomiaru średnicy laserowym przyrządem skanującym
9.2. Równanie pomiaru średnicy skanerem
9.3. Przedział ufności dla pomiaru średnic skanerem
Bibliografia
10. Podsumowanie
152 strony, oprawa miękka
